ProbeLeader專注於晶圓測試探針卡技術，提供懸臂式、垂直式及MEMS等多元探針卡解決方案，並搭配ReW、Spring、Straight、CIS N-Type、Cobra、MEMS等不同探針，依據客戶產品特性、待測物材質與電性需求，客製化設計針規、機構與PCB。透過工程模擬分析與高速訊號驗證技術，提升訊號完整性與傳輸效率，同時有效抑制雜訊干擾，確保產品具備穩定且高品質的測試表現。

目前勵威的探針卡產品已廣泛應用於MCU、PMIC、Analog、Mixed-Signal、Touch Panel、CMOS Image Sensor（CIS）、WAT、Mini / Micro LED 等領域，並持續拓展高階測試市場，積極開發微小間距 (fine pitch)、高溫、高壓/大功率、高速傳輸等測試方案以滿足AI、HPC、GPU、CPU 、ASIC等先進封裝的測試需求。