勵威針對 wafer良率測試有懸臂式與垂直式等多樣的探針卡架構, 提供多樣的探針種類,

如: ReW, CIS N-Type, Spring, Cobra, Straight …等，能因應客戶端的待測物材質以及電性規格, 設計適合的針規、機構及PCB, 並運用工程模擬驗證訊號完整性和傳輸速度, 降低雜訊干擾, 確保提供符合客戶品質的探針卡。

除了應用在MCU、Power management IC、Analog IC、Mix-Signal IC、Touch Panel, 勵威是大中華區業界少數有影像感測器專利並能設計製造高速CMOS Image Sensor (CIS)探針卡的公司, 近年來也佈局高溫、高壓, 大功率, WAT, Mini /Micro LED, RF, memory 等探針卡以因應電動車、AR / VR、5G、 WiFi … 等以滿足客戶各種不同的測試需求。