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検査装置および携帯検査器
勵威電子は、さまざまな光学検査装置および携帯式検査器を導入し、メーカーと協力して開発しています：
- パーティクル検査装置：
工場、手術室、クリーンルーム環境で微粒子の流れを検査し、
最小0.1μmの微粒子を検出でき、微粒子の発生源を特定するのに役立ちます。 - AOI光学検査装置：
異なる材料（例：シリコン、ガラス、SiC、セラミックなど）に対して製品の外観潜在的な欠陥を検査し、
製品品質を管理するのに役立ちます。 - 携帯式検査器：
異なる材料、工場、設備パイプラインに対応し、さまざまな光源と組み合わせて、
設備およびエンジニアリングスタッフが微粒子、化学薬品、ガスなどの漏れを検出するのに役立ちます。
可視化用高感度カメラ
独自開発の高速画像処理技術
微粒子可視化システム(Type H)
Find out the particle source to increase the production yield.
微粒子可視化システム(Type D)
Find out the particle source to increase the production yield.
微粒子可視化システム(Type-S)
誰でも簡単に微粒子を可視化することができます。
Particle Inspector- Green Light
波長500nm
Particle Inspector- UV Light (Mini Type)
UV LED 365nm
Digital Microscope (Handheld Type)
Real-time transmission of clear images, detection is effortless.
Digital Microscope
Desktop Instant Transmission of clear images
Deep Inspector
Industrial endoscopic tools can efficiently capture visual blind spots.
超音波カッター
刃先に超音波振動を与えることで切断の効率を上げる工具。
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AOI光学検査装置-EWS300
