ProbeLeader专注于晶圆测试探针卡技术，提供悬臂式、垂直式及MEMS等多元探针卡解决方案，并搭配ReW、Spring、Straight、CIS N-Type、Cobra、MEMS等不同探针，依据客户产品特性、待测物材质与电性需求，客製化设计针规、机构与PCB。透过工程模拟分析与高速讯号验证技术，提升讯号完整性与传输效率，同时有效抑制杂讯干扰，确保产品具备稳定且高品质的测试表现。

目前励威的探针卡产品已广泛应用于MCU、PMIC、Analog、Mixed-Signal、Touch Panel、CMOS Image Sensor（CIS）、WAT、Mini / Micro LED 等领域，并持续拓展高阶测试市场，积极开发微小间距 (fine pitch)、高温、高压/大功率、高速传输等测试方案以满足AI、HPC、GPU、CPU、ASIC 等先进封装的测试需求。